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GB/T 9639.1—2008自由落鏢法第1部分:梯級法

 更新時間:2023-11-29 點擊量:1931

        本部分規定了在給定高度的自由落鏢衝(chong) 擊下,測定塑料薄膜和薄片試樣破損數量達50%時的能量。以衝(chong) 擊破損質量表示。本部分適用於(yu) 塑料薄膜和厚度小於(yu) 1 mm的薄片。

1.2兩(liang) 種試驗方法

1.2.1A法:落鏢頭部直徑為(wei) (38士1)mm,下落高度為(wei) (0.66士0.01)m。適用於(yu) 衝(chong) 擊破損質量為(wei) 0.05 kg~2 kg 的材料。

1.2.2 B法:落鏢頭部直徑為(wei) (50士1)mm,下落高度為(wei) (1.50士0.01)m。適用於(yu) 衝(chong) 擊破損質量為(wei) 0.3 kg~2 kg 的材料。

1.3梯級法試驗時用於(yu) 改變落體(ti) 質量的配重塊質量應相同,根據前一個(ge) 試樣是否破損,利用配重塊減少或增加落體(ti) 質量。

image.png

檢測設備:

                        FB-30J落鏢衝(chong) 擊試驗機 (2).jpg

                                              FB-30J落鏢衝(chong) 擊試驗機

5.1試樣夾具

采用內(nei) 徑(125士2)mm 的上下兩(liang) 件環形夾具。下夾具(定夾具)固定在水平麵上。上夾具(動夾具)與(yu) 下夾具應保持平行。試驗時夾具能夾緊試樣,試樣不發生滑移。

注:氣動夾具應用良好。

5.1.1 與(yu) 試樣接觸的環形夾具表麵須附有橡膠墊圈,可減少厚度變化對夾持效果的影響。本設備推薦采用厚度為(wei) (3士1)mm.邵氏硬度A為(wei) 50~60、內(nei) 徑為(wei) (125士2)mm.外徑為(wei) (150士3)mm 的橡膠墊圈。5.1.2當試樣滑移超過0.10 mm時,可以將細紗布或合適的砂紙用雙麵膠帶粘在夾具或橡膠墊圈上,磨損麵與(yu) 試樣直接接觸。就會(hui) 產(chan) 生足夠大的夾緊力避免滑移。減少滑移的其他方法如附加夾緊裝置或調整夾緊麵,使試樣在夾具內(nei) 壁更加緊固,保證其有效直徑為(wei) (125士2)mm。

5.2電磁鐵

電磁鐵應能吸住、放開質量為(wei) 2kg 的落體(ti) 。有一個(ge) 可以接通或斷開電磁鐵的電源,定心裝置可以使用氣動或其他機械釋放裝置,確保均一、重複釋放。

5.3 定位裝置

應能將落鏢置於(yu) 下落高度(0.66士0.01)m(A法)或(1.50士0.01)m(B法)處。該高度指落鏢衝(chong) 擊麵到試樣表麵的垂直距離。

5.4 測厚量具

測量試樣厚度,量程為(wei) 0.001 mm~1 mm,精確到士0.001 mm。

5.5緩衝(chong) 和防護裝置

應能保護操作人員的安全及防止損壞落鏢衝(chong) 擊表麵。

5.6鎖緊環

內(nei) 徑為(wei) 7 mm,須用螺釘固定在落鏢圓柄上。

5.7落鏢

應有一半球形的頭部,在該頭部應裝上直徑為(wei) (6.5士0.1)mm,長至少為(wei) 115 mm的一根圓柄,用於(yu) 裝卸配重塊。圓柄應連接在落鏢頭部平整麵的中央,其縱軸垂直於(yu) 此平整麵。圓柄由非磁性材料製成,其端部有一長為(wei) (12.5士0.2) mm的鋼銷,當電磁鐵通電時,鋼銷被吸住。每一落鏢的質量偏差為(wei) 士0.5%。落鏢頭部的表麵應無裂痕、擦傷(shang) 或其他缺陷。

5.7.1A法:落鏢頭部的直徑為(wei) (38士1)mm。它由光滑、拋光的鋁、酚醛樹脂或其他硬度相似的低密度材料製成。

5.7.2B法:落鏢頭部的直徑為(wei) (50士1)mm。它由光滑的.拋光的不鏽鋼或其他硬度相似的材料製成5.8配重塊

由不鏽鋼或黃銅製成的圓柱體(ti) ,其中心孔的直徑為(wei) (6.5士0.1)mm,能與(yu) 圓柄自由配合。每個(ge) 配重塊必須控製在規定質量的士0.5%以內(nei) 。建議配重塊如下組合。

5.8.1A法,配重塊直徑為(wei) 30 mm ,見表1.

image.png

5.8.2B法,配重塊直徑為(wei) 45 mm,見表2。

image.png

5.8.3 如果落體(ti) 質量超過標準組合中的所有配重塊組合,應增大落體(ti) 質量,可組合使用附加配重塊,每個(ge) 120 g,偏差應在士0.5%(A法)之內(nei) ,每個(ge) 180 g,偏差應在士0.5%(B法)之內(nei) 。

8.2儀(yi) 器準備

8.2.1選擇A法或B法對儀(yi) 器進行設置。

8.2.2使電磁鐵通電,將落鏢(見5.7)的圓柄垂直插人磁性連接器裏。調整落體(ti) 下落高度(從(cong) 被夾試樣表麵到落鏢頭部的底部表麵的垂直距離)至(0.66士0.01)m(A法)或(1.50士0.01)m(B法)。

警告:為(wei) 安全起見,調節高度時應移走落鏢。

8.2.3將預試驗試樣緊固於(yu) 環形夾具之間,落鏢上不加配重塊,斷開電磁鐵釋放落鏢,觀察落鏢衝(chong) 擊試樣點,落鏢由試樣表麵彈開後應及時捕捉。必要時調整電磁鐵位置,重複預試驗,直到落鏢重複衝(chong) 擊被夾試樣中心位置。

8.2.4檢查試樣任何滑動的跡象。如果有滑動,該試驗結果應舍棄。隨著落體(ti) 質量和下落高度的增加,試樣滑動的可能性會(hui) 增大,有些材料的滑動會(hui) 更厲害。下列兩(liang) 種方法用於(yu) 檢查試樣是否滑動。8.2.4.1在落鏢下落前,沿上夾具內(nei) 壁,在試樣表麵用記號筆畫一個(ge) 圓圈,但對試樣隻能施加記號筆本身的壓力。待落鏢下落後移開試樣前,用另外一種顏色的記號筆畫---圓圈,如果在圓周的任何--位置出現雙線,則表示存在滑動。

警告:為(wei) 安全起見,畫圓圈時應移走落鏢。

8.2.4.2對於(yu) 采用橡膠墊圈貼細紗布或砂紙的方式夾緊試樣,隻需檢查衝(chong) 擊後試樣夾緊部位的劃痕,如果有,則表明存在滑動。