越來越多的製藥單位對本身自家產(chan) 品包裝存在的泄漏質量關(guan) 注，產(chan) 品包裝泄漏是每個(ge) 產(chan) 品加工商最不願意看到的事情。今天我們(men) 普創科技針對微泄漏一說，現利用真空衰減法密封性測試檢漏儀(yi) ，該產(chan) 品符合ASTM F2338-09 實現企業(ye) 成本控製 ，通過係統地測試軟包裝中的泄漏，您可以最大限度地減少包裝泄漏的百分比。這可以防止客戶抱怨包裝密封不良，同時減少浪費。
我們(men) 服務了這麽(me) 多客戶，也收到很多客戶的訴求，我們(men) 專(zhuan) 為(wei) 軟包裝的離線樣品測試而開發出MLT-V100微泄漏無損密封儀(yi) 。
MLT-V100係列微泄漏無損密封儀(yi)
可用於(yu) 用少量空氣或保護惰性氣體(ti) 手動測試包裝。如袋裝堅果，磨碎的奶酪，烤箱卷，咖啡墊或寵物食品。
通過係統地測試泄漏，您可以最大限度地減少包裝泄漏的百分比，避免對包裝密封不當的投訴，並減少食物浪費。真空衰減測試方法用於(yu) 軟包裝。
它通過將包裝放置在兩(liang) 個(ge) 柔性橡膠膜之間來利用壓差。蓋子關(guan) 閉後，在測試室中產(chan) 生深真空。在不損壞包裝的情況下創建非常小的測試空間。使用這種測量方法，無需調整任何設置即可檢測到微泄漏和大泄漏。
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